首页>>北京瑞科中仪科技有限公司>>产品展示>>薄膜测量仪器
自动光谱椭偏仪SENDURO® 参考价：面议
自动光谱椭偏仪SENDURO®所有的全自动光谱椭偏免除了用户根据高度和倾斜度手动地对准样品的麻烦，这对于高精度和可重复的光谱椭偏是必要的。
红外光谱椭偏仪SENDIRA 参考价：面议
红外光谱椭偏仪SENDIRA利用红外光谱中分子振动模的吸收带，可以分析薄膜的组成。此外，载流子浓度可以用傅立叶红外光谱仪FTIR测量。
低成本高效益的光谱椭偏仪SENpro 参考价：面议
低成本高效益的光谱椭偏仪SENpro覆盖宽的光谱范围，从190 nm(深紫外)到3500 nm(近红外)。傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度...
椭偏反射仪 参考价：面议
椭偏反射仪性能优异的多角度手动角度计和角度精度优越的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折射率、消光系数和膜厚。
光谱椭偏仪 参考价：面议
光谱椭偏仪我们的自动扫描的选项具有预定义或用户定义的模式、广泛的统计以及数据的图形显示，如2D颜色、灰度、轮廓、+/-偏离平均值和3D绘图。
光谱椭偏仪 参考价：面议
光谱椭偏仪SENDURO® 所有的全自动光谱椭偏免除了用户根据高度和倾斜度手动地对准样品的麻烦，这对于高精度和可重复的光谱椭偏是必要的。该的自动对准传...
光谱椭偏仪 参考价：面议
光谱椭偏仪SENDIRA用于测量薄膜厚度，折射率，消光系数以及体材料，单层和多层堆叠膜的相关特性。特别是覆盖层下面的层在可见范围内是不透明的，现在也可以进行测量...
光谱椭偏仪 参考价：面议
光谱椭偏仪SENpro具有操作简单，测量速度快，能对不同入射角的椭偏测量数据进行组合分析等特点。光谱范围为370到1050 nm。SENpro的光谱范围与精密的...
光谱椭偏仪 参考价：面议
光谱椭偏仪为了获得测量结果，在数据采集过程中没有光学器件运动。步进扫描分析器(SSA)原理是SENresearch 4.0光谱椭偏仪的一个特性。通过创新的双补偿...
2